臺式掃描電鏡用于觀測不導電樣品
發布時間:2021/03/01

隨著科技的迅猛發展,光學檢測已無法滿足對材料領域微觀結構觀察的需要。而傳統大型掃描電鏡價格高昂,使許多有微觀結構觀察需求的客戶望而卻步,由此臺式掃描電鏡憑借高性價比、維護成本低、操作簡單便捷等優勢逐步走上舞臺,逐漸成為材料領域用戶常規的檢測工具。
針對材料微觀結構的觀察往往需要體現其最為真實的形態結構,許多材料并不具有導電性,當掃描電鏡中的入射電子束與導電性不良的樣品作用時,電子將在樣品表面形成不穩定電場,使拍攝的圖像出現異常反差的白色或黑色區域,甚至產生畸變,嚴重影響觀察和圖像質量,這種現象稱為“放電現象”或“荷電現象”。
解決荷電有多種方法,在低電壓下觀察樣品,使入射電子等于產生的二次電子和背散射電子的總和,從而實現電荷的平衡;或者在樣品表面噴鍍連續導電層,使其表面具有良好導電性都可以有效避免荷電現象。
EM科特掃描電鏡具有優異的低電壓成像能力,在不允許做樣品噴金處理的前提下能有效解決導電性能很差或絕緣樣品的成像問題。再結合大樣品臺,點擊任意感興趣的位置,視野即可快速移動到該位置,輕松幫助用戶完成觀測。
陶瓷(未做任何處理)
PTFE薄膜
PVC塑料